產(chǎn)品分類
- 磁測(cè)量?jī)x器
- 齒輪測(cè)量?jī)x
- 合金成分光譜儀
- 粗糙度儀
- 表面活性劑性能分析儀器
- 量塊
- 金屬打標(biāo)機(jī)
- 金相設(shè)備
- 金相顯微鏡
- 體視顯微鏡
- 偏光顯微鏡
- 生物顯微鏡
- 倒置顯微鏡
- 熒光顯微鏡
- 工具顯微鏡
- 讀數(shù)顯微鏡
- 光學(xué)投影儀
- 影像測(cè)量?jī)x
- 測(cè)高儀/測(cè)長(zhǎng)儀
- 測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 推拉力計(jì)
- 萬能試驗(yàn)機(jī)
- 便攜式硬度計(jì)
- 臺(tái)式硬度計(jì)
- 工量具
- 角度量?jī)x
- 環(huán)境檢測(cè)儀器
- 溫濕度計(jì)
- 紅外測(cè)溫儀
- 水份測(cè)試儀
- 風(fēng)速儀/轉(zhuǎn)速表
- 噪音計(jì)/照度計(jì)
- 秒表/折射儀
- 三坐標(biāo)
- 公司軟件
- 氣動(dòng)量?jī)x
- 電子天平
- 光澤度儀
- 色差儀
- 分光光度計(jì)
產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
X-MET500手持式合金分析儀能夠準(zhǔn)確快速地驗(yàn)證關(guān)鍵材料，被眾多的檢驗(yàn)公司視為多用途工具，可提供多種材料篩選和分析功能。例如“材料可靠性鑒定”（PMI）、流體加速腐蝕測(cè)試、RoHS檢測(cè)，甚至土壤分析。X-MET500手持式合金分析儀對(duì)準(zhǔn)樣品即可進(jìn)行分析，X-MET500手持式合金分析儀幾秒內(nèi)即可完成常規(guī)鑒定，X-MET500手持式合金分析儀5秒內(nèi)完成304/321或CPTi/Ti-7牌號(hào)鑒定
詳情介紹：
X-MET500手持式合金分析儀能夠準(zhǔn)確快速地驗(yàn)證關(guān)鍵材料，被眾多的檢驗(yàn)公司視為多用途工具，可提供多種材料篩選和分析功能。例如“材料可靠性鑒定”（PMI）、流體加速腐蝕測(cè)試、RoHS檢測(cè)，甚至土壤分析。
·對(duì)準(zhǔn)樣品即可進(jìn)行分析
·幾秒內(nèi)即可完成常規(guī)鑒定
·5秒內(nèi)完成304/321或CPTi/Ti-7牌號(hào)鑒定
在數(shù)秒內(nèi)完成對(duì)大型或小型、規(guī)則或不規(guī)則樣品的分析，如螺栓、管狀或蜂窩狀的樣品
·X-MET5000自動(dòng)補(bǔ)償因樣品形狀而產(chǎn)生的分析誤差
·可對(duì)管縫、焊縫的耐蝕性以及壓力容器的合金成份進(jìn)行分析
·可在數(shù)秒內(nèi)鑒定直徑小于1毫米的管線
X-MET5000——可用于各種條件下的分析儀
·經(jīng)IP54(MEMA 3)認(rèn)證，可防水、防塵；
·結(jié)構(gòu)緊密堅(jiān)固，可適應(yīng)各種惡劣工作環(huán)境；
·集成隔熱防護(hù)罩，允許長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量表面溫度高達(dá)400℃的物體；
·在長(zhǎng)期的多塵和潮濕工作環(huán)境下亦可保持理想狀態(tài)；
·可分析較窄的焊接口（2毫米）；
·非常適用于難以接近的樣品；
·電池可持續(xù)使用一個(gè)工作日
涵蓋廣泛的開放式牌號(hào)庫，X-MET5000可允許方便地編輯牌號(hào)庫，包括增加新型合金以及為合金命名。它同時(shí)自帶有集成的牌號(hào)庫，其中包含：
·鎳合金
·不銹鋼
·鈷合金
·低合金鋼
·工具鋼
·銅合金
·鈦合金
·鋯合金
·鋁合金（重合金元素）
三種運(yùn)行模式：
·定量分析與牌號(hào)鑒定
·直接光譜鑒定
·合格/不合格篩選
用戶可選擇使用基本參數(shù)法（FP）或經(jīng)驗(yàn)值校準(zhǔn)法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。基本參數(shù)法是一種快速、簡(jiǎn)便的校準(zhǔn)方法，無需標(biāo)準(zhǔn)樣品。儀器標(biāo)準(zhǔn)配置軟件可同時(shí)分析從Ti到U之間的28種元素。用戶可自定義對(duì)元素的分析。經(jīng)驗(yàn)值校準(zhǔn)可實(shí)現(xiàn)*佳的測(cè)量精度，尤其適用于對(duì)微量元素和鍍層厚度的測(cè)量。
簡(jiǎn)便可靠
·儀器簡(jiǎn)單易學(xué)
·只需少量培訓(xùn)
·方便的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與輸出
·基于PDA技術(shù)的靈活性和簡(jiǎn)便性
·經(jīng)由CE、cCSAus認(rèn)證
·應(yīng)用PentaPINTM技術(shù)的探測(cè)器，可以提供更快的檢測(cè)速度并提供更低的元素檢測(cè)下限
